ок...Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем, Александр Чернышев, В книге на основе современных физических представлений рассмотрены вопросы надежности полупроводниковых приборов...(764)
ок...Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микр...
Описание
Год выпуска 1988
Сохранность Хорошая
Автор Александр Чернышев
Формат издания 145х215 мм (средний формат)
Количество страниц 256
ISBN 5-256-00042-X
Тираж 30000
Издательство Радио и связь
Переплет Твердый переплет
Язык издания Русский
Тип издания Отдельное издание
Вес в упаковке, г 350
В книге на основе современных физических представлений рассмотрены вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Значительное внимание уделено влиянию различных технологических факторов и условий применения на надежность. Подробно рассмотрены дефекты, возникающие в исходных материалах, и механизмы отказов полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Изложены методы обеспечения их надежной работы в различной радиоэлектронной аппаратуре.
Книга рассчитана на инженерно-технических работников, занимающихся производством полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и их применением. Она будет полезна студентам старших курсов соответствующих специальностей.
Условия передачи
Доставка в другие города
Поделиться этим лотом: