Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем, Александр Чернышев, В книге на основе современных физических представлений рассмотрены вопросы надежности полупроводниковых приборов...(764)

Год выпуска 1988

Сохранность Хорошая

Автор Александр Чернышев

Формат издания 145х215 мм (средний формат)

Количество страниц 256

ISBN 5-256-00042-X

Тираж 30000

Издательство Радио и связь

Переплет Твердый переплет

Язык издания Русский

Тип издания Отдельное издание

Вес в упаковке, г 350

В книге на основе современных физических представлений рассмотрены вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Значительное внимание уделено влиянию различных технологических факторов и условий применения на надежность. Подробно рассмотрены дефекты, возникающие в исходных материалах, и механизмы отказов полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Изложены методы обеспечения их надежной работы в различной радиоэлектронной аппаратуре.

Книга рассчитана на инженерно-технических работников, занимающихся производством полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и их применением. Она будет полезна студентам старших курсов соответствующих специальностей.